半導(dǎo)體領(lǐng)域探針臺
在集成電路的研發(fā)、生產(chǎn)制造、實效分析過程中,經(jīng)常要量測內(nèi)部的電參數(shù),由于制成的越來越低,沒有辦法用簡單的萬用表、示波器的表筆來探測信號。手動分析探針臺能很好的幫助工程人員實現(xiàn)微小位置的電學(xué)參數(shù)測試。Advanced在中國推出手動分析探針臺
型號: PW-400
規(guī)格:
chuck尺寸100mm
X,Y移動行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm(選項)
搭配AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)2~4顆
適用領(lǐng)域:4寸Wafer,如晶圓廠、LED、學(xué)術(shù)單位等
型號: PW-600/PW-800
規(guī)格:
chuck尺寸150mm(200mm)
X,Y電動移動行程150mm(200mm)
chuck粗調(diào)升降8mm,微調(diào)升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)6~8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域:6寸/8寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品
RF高頻探針臺
東、南、西、北測試臂
搭配美國GGB高頻測試頭
DC~10/40/50/67GHZ (GSG,GS,SG)
Pitch 100~1500um
探針材料:BeCu/Tungsten