CCIT測(cè)試
美國(guó)PTI VeriPac 465基于第二代真空衰減技術(shù)，在軟硬件上采用多項(xiàng)創(chuàng)新，其性能取得重大突破，使得真空衰減法獲得了從未有的靈敏度和穩(wěn)定性。實(shí)現(xiàn)了*大限度地采用非破壞方式檢測(cè)無(wú)菌藥品的*大允許泄漏限值（MALL）。
CCIT測(cè)試
Veripac 465是一個(gè)確定性的微漏測(cè)試系統(tǒng),用于注射劑產(chǎn)品和硬質(zhì)容器的容器密封完整性測(cè)試,此類產(chǎn)品通常需要精準(zhǔn)測(cè)試和檢測(cè)*小的泄漏。
Veripac 465基于物理的基本原理進(jìn)行泄漏檢測(cè),不需要使用微量氣體或樣品制備來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
Veripac 465核心技術(shù)基于美國(guó)FDA認(rèn)可的ASTM真空衰減泄漏測(cè)試方法(F2338),是包裝完整性測(cè)試的共識(shí)標(biāo)準(zhǔn)。該測(cè)試方法是使用 Veripac泄漏測(cè)試儀器開(kāi)發(fā)的。該方法是迄今為止*靈敏和通用的基于真空的泄漏檢測(cè)技術(shù)。通過(guò)引入*的測(cè)試周期、氣動(dòng)控制和處理算法, Veripac 465取得了*佳的測(cè)試靈敏度。
CCIT密封性檢測(cè)直擊行業(yè)痛點(diǎn)
隨著一致性法規(guī)的持續(xù)推進(jìn)，越來(lái)越多的業(yè)內(nèi)人士在關(guān)注MALL級(jí)別（1um以下漏孔）如何檢測(cè)的問(wèn)題，而現(xiàn)有無(wú)損真空檢漏技術(shù)均無(wú)法檢測(cè)到1um以下漏孔，需要補(bǔ)充更精確的方法來(lái)確保符合無(wú)菌藥品*大允許泄漏限值，Veripac 465的目標(biāo)就是檢測(cè)出MALL級(jí)別的漏孔。
憑借VeriPac 465的*技術(shù)，國(guó)內(nèi)注射劑生產(chǎn)廠家有望在包裝密封性層面更快更早地通過(guò)一致性評(píng)價(jià)的審批！
CCIT密封性檢測(cè)產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
美國(guó)PTI VeriPac 465基于第二代真空衰減技術(shù)，在軟硬件上采用多項(xiàng)創(chuàng)新，其性能取得重大突破，使得真空衰減法獲得了從未有的靈敏度和穩(wěn)定性。實(shí)現(xiàn)了*大限度地采用非破壞方式檢測(cè)無(wú)菌藥品的*大允許泄漏限值（MALL）。
傳統(tǒng)的真空衰減技術(shù)靈敏度*大只能達(dá)到1μm，VeriPac 465作為第二代真空衰減技術(shù)的代表，靈敏度可以達(dá)到1μm以下，經(jīng)數(shù)據(jù)驗(yàn)證，靈敏度*大可達(dá)0.5μm，該靈敏度已經(jīng)非常接近無(wú)菌藥品的*大允許泄漏限值，可以將微生物侵入風(fēng)險(xiǎn)降至*低，確保無(wú)菌藥品的產(chǎn)品質(zhì)量。
由于該方法為非破壞性檢測(cè)方式，可以廣泛使用在藥品整個(gè)生命周期的包裝密封完整性檢測(cè)和驗(yàn)證，節(jié)省了因傳統(tǒng)方法破壞樣品導(dǎo)致的大量樣品損耗，提高了檢測(cè)結(jié)果的可靠性和可重復(fù)性。
該方法適用范圍極廣，有頂空和無(wú)頂空的包裝均可檢測(cè)，充氮和空氣的頂空對(duì)檢測(cè)結(jié)果均無(wú)影響，且操作簡(jiǎn)單方便，不需要過(guò)夜抽真空，即可確保*佳的測(cè)試性能。設(shè)備重現(xiàn)性良好，不同操作人員檢測(cè)均可取得一致的測(cè)試結(jié)果。該方法適用于大多數(shù)注射劑產(chǎn)品的包裝密封性檢測(cè)，包括凍干、粉針和水針制劑，*和輸液瓶同樣可以取得較好的測(cè)試效果。
CCIT密封性檢測(cè)適用包裝類型
西林瓶、預(yù)充針、卡氏瓶、安瓿瓶、輸液瓶、*等各種制藥包裝。
