半導(dǎo)體芯片多功能推力測試機(jī)是一種用于測試半導(dǎo)體芯片推力的儀器。下面是該產(chǎn)品的詳細(xì)介紹：
型號：LB-8500L
產(chǎn)品特點(diǎn)：
多功能測試：該測試機(jī)可以同時測試半導(dǎo)體芯片的推力和拉力，滿足不同測試需求。
高精度測試：采用高精度傳感器和控制系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)精確的推力和拉力測試。
自動化測試：該測試機(jī)配備了自動化測試軟件，可實(shí)現(xiàn)自動化測試和數(shù)據(jù)處理，提高測試效率和準(zhǔn)確性。
可靠性測試：該測試機(jī)可用于半導(dǎo)體芯片的可靠性測試，包括長時間推力測試和循環(huán)推力測試等。
易于操作：該測試機(jī)采用人性化設(shè)計(jì)，操作簡單方便，適用于不同的測試人員。
產(chǎn)品參數(shù)：
設(shè)備型號：LB-8500L
外型尺寸：1500*1200*1600
設(shè)備重量：約850KG
電源供應(yīng)：110V/220V@4.0A 50/60HZ
壓縮空氣：4.5-6Bar
真空輸出：500mm Hg
控制電腦：聯(lián)想PC
軟件運(yùn)行：Windows7/Windows10
顯微鏡：三目影像顯微鏡
傳感器更換方式：自動切換或手動更換測試模塊
平臺治具：平臺共用多種測試治具，按客戶樣品量身設(shè)計(jì)匹配治具
XY軸有效行程：X軸有效行程500mm，Y軸有效行程300mm，可按客戶產(chǎn)品訂制具體尺寸
Z軸有效行程：80mm
XY軸分辯率：±1um Z軸分辯率±1um
傳感器精度：傳感器精度±0.003％；綜合測試精度±0.25％
應(yīng)用領(lǐng)域：
該測試機(jī)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片的推力測試和可靠性測試，適用于電子、通信、航空航天、汽車等領(lǐng)域。
以上是半導(dǎo)體芯片多功能推力測試機(jī)的產(chǎn)品詳情。該測試機(jī)具有多種功能和高精度測試能力，可滿足不同測試需求，并廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域。
