公司簡介

德國ParticleMetrix公司

德國 Matric公司一直致力于研發(fā)和生產(chǎn)顆粒表征的儀器，其總部和銷售及技術(shù)支持中心位于德國的梅爾布施；生產(chǎn)和研發(fā)中心位于德國的慕尼黑。自公司成立以來，PMX一直致力于生命科學方面儀器的研究，終于在2006年研發(fā)出納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView，其主要應用于細胞外囊泡，蛋白質(zhì)聚集以及納米氣泡等的大小、濃度以及Zeta電位測量。

儀器簡介：

Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運動成為現(xiàn)代的分析手段。自動校準和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數(shù)以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計數(shù)分析得到。平移擴散常數(shù)可通過直接觀測待測顆粒的布朗運動計算得到。通過測試電泳遷移率，可以得到zeta電位。

納米粒子跟蹤分析（NTA）和動態(tài)光散射（DLS）

所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個問題：當顆粒大小低于100nm時，靈敏度會迅速的降低。動態(tài)光散射技術(shù)的檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對于DLS，當樣品濃度太低時，zetaview可以非常圓滿的完成檢測任務。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會非常的適合。

測量范圍

測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測下限為10nm；相應的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。

源于視頻分析的顆粒計數(shù)

顆粒濃度可通過視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對粒徑?？蓹z測的最小濃度為/cm3，大為/cm3。對于200nm的顆粒，大體積濃度為1000ppm。

準確度和精度

Zeta電位：準確度5mv，精度4mv，重現(xiàn)性5mv；

粒度測試（對于100納米的標準乳膠顆粒）：準確度6nm，精度4nm，重現(xiàn)性4nm；

濃度測試（100納米的顆粒，濃度10Mio粒子/ml）：準確度0.8 Mio/ml，精度0.5Mio/ml，重現(xiàn)性1Mio/ml；

只要相機設置正確，樣品處理適當，則以上所有的數(shù)據(jù)均有效。

方法

Zetaview激光散射顯微鏡對于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。

技術(shù)優(yōu)勢

• 功能一體化：可一次性完成樣品的粒徑、濃度、Zeta電位和熒光測試；

• 掃描式NTA：無需額外配件，即可自動在樣品池內(nèi)的11個檢測位置依次完成測試，并自動評估樣品和數(shù)據(jù)質(zhì)量；

• 全新的固定式樣品池模塊設計，插入式樣品池設計，無需拆卸，易清洗。

•直觀的軟件：紅綠信號指示可以幫用戶直接判斷當前濃度的樣品是否可以測試。

• 快速測試：1min即可分析1000個左右的樣品顆粒。
• 自動校準&自動聚焦：光學部件可通過儀器軟件實現(xiàn)自動校準與優(yōu)化，節(jié)省了用戶的實驗準備時間，成功避免了可能產(chǎn)生的用戶主觀偏差。
• 熒光分析：儀器配備了超靈敏的CMOS相機和更多的熒光濾光片，具有更高的熒光檢測靈敏度，進一步增強了儀器的熒光檢測與分析能力。
• 儀器的防震動設計提高了視頻圖像的穩(wěn)定性。

多熒光NTA（F-NTA）
Particle Metrix提供從單激光到多激光的一系列PMX-X30設備，新增加了12位的熒光檢測通道，各設備均可實現(xiàn)不同激光波長之間、散射光模式與熒光模式之間的一鍵切換。PMX-X30系列設備的固定式樣品池模塊設計，既進一步增強了儀器的穩(wěn)定性和測試的可靠性，又進一步簡化了儀器清洗過程，提高了測試效

主要應用

生物納米顆粒：

• 細胞外囊泡

• 外泌體

• 脂質(zhì)體&膠束

• 蛋白質(zhì)聚集體

• 病毒&類病毒顆粒（VLPs）

• 藥物載體

• 熒光標記的納米顆粒

低濃度樣品：

• 納米氣泡

• 納米金屬

• 微量樣品

• 量子點

技術(shù)參數(shù)