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i-Spec漫透射光譜儀系統(tǒng)是B&WTEK 推出的高性價比寬光譜分析儀，系統(tǒng)可集成多種透射、反射等采樣附件，適應于實驗室和現(xiàn)場分析的需求。紫外-近紅外類產品使用TE致冷控溫CCD陣列檢測器和InGaAs陣列檢測器900-1700nm，近紅外類產品使用InGaAs陣列檢測器1100-2200nm檢測器，紫外和近紅外檢測靈敏度和動態(tài)范圍。

i-Spec漫透射光譜儀系統(tǒng) 漫透射光譜儀系統(tǒng) 產品詳情

i-Spec漫透射光譜儀系統(tǒng)主要規(guī)格：

1. 機身小巧便攜，堅固耐用
2. 內部無移動部件，大大提高了儀器的重現(xiàn)性和抗震性
3. 可選配多種光纖探頭，滿足不同檢測的需求
4. 可選配充電電池模塊，便于野外使用

i-Spec漫透射光譜儀系統(tǒng)技術規(guī)格：

型號	BWS005	BWS015	BWS025
*光譜儀*
光譜范圍	400 - 2200 nm	350 - 1700 nm	1100-2200 nm
光譜分辨率（FWHM）	400-1100nm: 25μm slit, 4.0nm 1100-2200nm: 75μm slit, 13.0nm	350-1050nm: 10μm slit, 1.2nm 900-1700nm: 50μm slit, 5.0nm	75μm slit, 13.0nm
動態(tài)范圍	400-1100nm: 50000:1 1100-2200nm: 13000:1 （高動態(tài)范圍模式） 1100-2200nm: 6250:1 （高靈敏度模式）	350-1050nm: 275:1 900-1700nm: 13000:1 （高動態(tài)范圍模式） 900-1700nm: 6250:1 （高靈敏度模式）	13000:1 （高動態(tài)范圍模式） 6250:1 （高靈敏度模式）
信噪比	400-1100nm: 7100:1 off peak; 6500:1 on peak 1100-2200nm: 2752:1 off peak; 2737:1 on peak （高動態(tài)范圍模式） 1100-2200: 791:1 off peak; 828:1 on peak （高靈敏度模式）	350-1050nm: 1200:1 off peak; 270:1 on peak 900-1700nm: 2752:1 off peak; 2737:1 on peak （高動態(tài)范圍模式） 900-1700: 791:1 off peak; 828:1 on peak （高靈敏度模式）	2752:1 off peak; 2737:1 on peak （高動態(tài)范圍模式） 791:1 off peak; 828:1 on peak （高靈敏度模式）
基線噪聲（p-p RMS）	400-1100nm: 噪聲RMS 9.2 counts @ 3ms 1100-2200nm: 噪聲RMS 360 counts @ 0.25ms（高動態(tài)范圍模式）	350-1050nm: 1Ave： <6, 10Ave： <20 900-1700nm: 噪聲RMS 300 counts @ 1ms （高動態(tài)范圍模式）	噪聲RMS 360 counts @ 0.25ms（高動態(tài)范圍模式）
預熱時間	10 min	10 min	10 min
*光學參數(shù)*
耦合輸入	SMA905	SMA905	SMA905
狹縫	400-1100nm: 25μm 1100-2200nm: 75μm	350-1050nm: 10μm 900-1700nm: 50μm	50 μm
狹縫	400-1100nm: 25μm 1100-2200nm: 75μm	350-1050nm: 10μm 900-1700nm: 50μm	50 μm
光柵	Ruled, 400-1100nm: 400/400 Ruled, 1100-2200nm: 100/1600	Ruled, 350-1050nm: 700/530 Ruled, 900-1700nm: 150/1250	Ruled, 100/1600
光柵	Ruled, 400-1100nm: 400/400 Ruled, 1100-2200nm: 100/1600	Ruled, 350-1050nm: 700/530 Ruled, 900-1700nm: 150/1250	Ruled, 100/1600
光學結構	Crossed Czerny-Turner	Crossed Czerny-Turner	Crossed Czerny-Turner
F#	400-1100nm: 3.0 1100-2200nm: 3.5	350-1050nm: 3.2 1100-2200nm: 3.5	3.5
焦長	400-1100nm: 37.5mm and 42.5mm 1100-2200nm: 85.00mm and 104.55mm	350-1050nm: 37.5mm and 42.5mm 900-1700nm: 85.00mm and 104.55mm	85.00mm and 104.55mm
*內建光源*
Tungsten halogen	BWS005-20: 20W Tungsten halogen	BWS015-05: 5W Tungsten halogen	BWS025-20: 20W Tungsten halogen
*檢測器*
像元數(shù)	400-1100nm: 512x1 1100-2200nm: 256x1	350-1050nm: 2048x1 900-1700nm: 512x1	256x1
像素尺寸	400-1100nm: 25×2500 μm 1100-2200nm: 50×250 μm	350-1050nm: 14×200 μm 900-1700nm: 25x500 μm	50×250 μm
阱深	400-1100nm: 156,000,000e 1100-2200nm: 130,000,000e （高動態(tài)范圍） 1100-2200: 5,000,000e （高靈敏度）	350-1050nm: 62,500e 900-1700nm: 100,000,000e （高動態(tài)范圍） 900-1700: 40,000,000e （高靈敏度）	130,000,000e （高動態(tài)范圍） 5,000,000e （高靈敏度）
TE-致冷	400-1100nm: no 1100-2200nm: -10ºC （2 stage）	350-1050nm: 14ºC （1 stage） 900-1700nm: 5ºC （1 stage）	-10ºC （2 stage）
Electronics
積分時間	400-1100nm: 3ms ～ 65,535ms 1100-2200nm: 1ms to >30ms	350-1050nm: 5 ～ 65,535ms 900-1700nm: 1ms to 65,535ms	10µs to >30ms with BWSpec 3.27
積分時間	400-1100nm: 3ms ～ 65,535ms 1100-2200nm: 1ms to >30ms	350-1050nm: 5 ～ 65,535ms 900-1700nm: 1ms to 65,535ms	10µs to >30ms with BWSpec 3.27
A/D 轉換讀出速度	16bit	16bit	16bit
A/D 轉換讀出速度	500kHz	500kHz	500kHz
計算機要求
操作系統(tǒng)	Win2000, XP（32bit） , 7（32bit）	Win2000, XP（32bit） , 7（32bit）	Win2000, XP（32bit） , 7（32bit）
計算機接口	USB2.0	USB2.0	USB2.0
*Power*
功率（W）	72W	50W	65W
AC-DC 轉換	Yes	Yes	Yes
輸入	100-240 VAC, 50/60 Hz	100-240 VAC, 50/60 Hz	100-240 VAC, 50/60 Hz
輸出	12VDC, 8A	12VDC, 8 A	12VDC, 8A
外形
尺寸	242mm x170mm x347 mm	242mm x170mm x347 mm	242mm x170mm x347 mm
重量	3.6 kg to 4.5 kg depending on the model	3.6 kg to 4.5 kg depending on the model	3.6 kg to 4.5 kg depending on the model
*環(huán)境要求*
操作溫度 & 濕度	15 ～ 35℃, RH 85% 無冷凝	15 ～ 35℃, RH 85%無冷凝	15 ～ 35℃, RH 85% 無冷凝
儲存溫度 & 濕度	0-50℃，< 85%Rh，無冷凝	0-50℃, < 85%Rh，無冷凝	0-50℃, < 85%Rh，無冷凝

關鍵詞：光譜儀

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產品名稱	參考價	地區(qū)	公司名稱	更新時間
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