X-RAY鍍層膜厚測試儀軟件包括 ：
（1）X射線部件的操作
（2）控制整個測量過程
（3）*的基本參數(shù)法可進行無標準片測量
（4）用受認證的標準片進行校準，可以完成有標準片調校的測量
（5）可以同時分析材料成分和測量計算鍍層厚度
（6）按照元素波峰進行自動元素識別
（7）測量值可以以karat, wt% 或 ‰表示
（8）客戶自定義報表工具
X-RAY鍍層膜厚測試儀是一款設計緊湊靈活、功能強大的膜厚儀，可以滿足各個行業(yè)中對質量保證和過程控制的要求。
用*的X射線技術,可高效率低成本,小型的X-射線熒光光譜儀,操作簡易但功能強大,可分析元素由鋁(13)到鈾(92),并且具備視像顯微鏡及可測量小到ppm的范圍,即使是較大的測量樣品也可放在XY(Z)測量臺上，拾載的WinFTM v6軟件,使儀器可以在沒有標準片的情況下進行測量。
測量技術同行15年，在同測量領域風蚤，成為膜厚儀*，精準的數(shù)據(jù)，*的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業(yè)意見與技術扶持，值得您的信賴。
: 舒翠
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