-
脈沖恒流電源1000A大電流
武漢普賽斯儀表推出的HCPL100型脈沖恒流電源1000A大電流具有輸出電流大(1000A)、脈沖邊沿陡(15uS)、支持兩路脈沖電壓測量(峰值采樣)、支持輸出...
型號: HCPL100
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/8/1 13:51:51
對比
脈沖恒流源脈沖電流源大電流源脈沖電源高電流源
-
電阻式傳感器IV特性測試數字源表
在傳感器研究的早期階段,利用I-V特性分析技術,可以簡化用于氣體檢測系統(tǒng)和分析儀器的傳感器合格驗證。無論對于新材料、新技術研發(fā)還是傳感器的生產測試,將I-V特性...
型號: S300
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/30 9:10:53
對比
傳感器電性能測試傳感器IV測試數字源表源表IV特性測試
-
大功率分立器件測試設備
普賽斯大功率分立器件測試設備,集多種測量和分析功能一體,可以精準測量功率半導體器件的靜態(tài)參數,具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、納安級電流測量能力等特點。...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/26 9:38:42
對比
分立器件測試大功率器件測試功率器件測試設備半導體器件測試設備功率器件測試儀
-
霍爾傳感器測試方案霍爾延時響應測試設備
在霍爾電流傳感器的研發(fā)、使用過程中,對器件的響應速度、線性度、精度等特性的測量尤為重要,對確保器件性能穩(wěn)定、可靠工作,以及指導器件選型使用具有重要意義?;魻杺鞲?..
型號: CTMS1000A
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/19 13:24:51
對比
霍爾傳感器測試霍爾延時響應電流傳感器測試傳感器測試設備傳感器測試方案
-
半導體參數測試儀+大電流高壓分析儀
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備,產品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產全產業(yè)鏈。推出基于高精度數字源表(SMU)的第三代半導體功率器件靜...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/18 9:58:05
對比
半導體參數測試儀半導體參數分析儀功率器件測試儀功率器件分析儀功率半導體參數測試儀
-
IGBT靜態(tài)測試臺+功率器件測試系統(tǒng)
PMST系列IGBT靜態(tài)測試臺+功率器件測試系統(tǒng)是武漢普賽斯正向設計,精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統(tǒng),是一致能夠提供IV,CV、跨導等豐富功能的綜合測試...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/17 9:38:11
對比
igbt靜態(tài)參數igbt靜態(tài)測試功率器件測試靜態(tài)測試系統(tǒng)靜態(tài)參數測試
-
半導體靜態(tài)參數測試儀+功率器件測試設備
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備,產品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產全產業(yè)鏈。推出基于高精度數字源表(SMU)的第三代半導體功率器件靜...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/15 14:03:56
對比
半導體參數測試儀功率器件測試儀功率器件測試儀功率器件測試設備半導體測試儀
-
大功率器件測試儀器+功率半導體參數分析儀
普賽斯大功率器件測試儀器+功率半導體參數分析儀,集多種測量和分析功能一體,可以精準測量功率半導體器件的靜態(tài)參數,具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、納安級電...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/11 9:17:18
對比
大功率器件測試儀功率器件分析儀半導體參數分析儀半導體器件測試儀功率器件測試儀
-
功率器件靜態(tài)測試儀igbt測試設備
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備,產品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產全產業(yè)鏈。推出基于高精度數字源表(SMU)的第三代半導體功率器件靜...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/9 9:58:29
對比
靜態(tài)測試儀igbt測試設備功率器件測試設備igbt測試儀功率器件測試儀
-
半導體電學參數測試設備IV+CV曲線掃描儀
SPA-6100型半導體電學參數測試設備IV+CV曲線掃描儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性...
型號: SPA6100
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/8 10:59:40
對比
電學參數測試設備電學測試系統(tǒng)iv+cv測試iv曲線測試儀cv曲線測試儀
-
晶體管特性圖示儀iv+cv測試機
SPA-6100型晶體管特性圖示儀iv+cv測試機可以幫助用戶根據測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分...
型號: SPA6100
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/4 13:47:24
對比
晶體管特性圖示儀晶體管特性測試儀iv+cv測試機晶體管測試儀器晶體管參數分析儀
-
三代半功率器件測試系統(tǒng)+半導體測試設備
普賽斯功率器件靜態(tài)參數測試系統(tǒng),集多種測量和分析功能一體,可以精準測量功率半導體器件的靜態(tài)參數,具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、納安級電流測量能力等特點...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/3 9:35:33
對比
功率器件測試功率器件測試設備三代半測試系統(tǒng)三代半測試設備半導體功率器件測試
-
數字源表測試燃料電池電導率
普賽斯數字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下納安級測量、1000A脈沖大電流輸...
型號: S100/S200...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/1 9:17:51
對比
源表數字源表燃料電池測試電導率測試數字源表測試
-
數字源表測電阻率四探針法
四探針技術要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同時,測試中間兩根探針的電壓差。后,電阻率通過樣品的幾何參數,輸出電流源和測到的電...
型號: S100/S200...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/6/27 9:12:49
對比
源表數字源表源表測電阻率數字源表測電阻率電阻率測試
-
SMU數字源表測電阻
普賽斯數字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下納安級測量、1000A脈沖大電流輸...
型號: S100/S200...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/6/27 9:10:38
對比
源表數字源表源表測電阻數字源表測電阻電阻測試
-
單管igbt測試設備參數分析儀
SPA-6100單管igbt測試設備參數分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產品...
型號: SPA-6100
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/6/26 9:08:43
對比
單管igbt測試單管igbt參數分析igbt測試設備igbt參數測試設備igbt參數分析儀
-
半導體器件測試設備iv+cv一鍵測量
SPA-6100型半導體器件測試設備iv+cv一鍵測量可以幫助用戶根據測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電...
型號: SPA-6100
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/6/24 9:53:32
對比
半導體器件測試設備半導體參數測試儀半導體參數分析儀半導體分析儀器半導體iv+cv測試
-
柔性材料形變測試SMU數字源表
柔性材料形變測試SMU數字源表認準普賽斯儀表,普賽斯S系列、P系列源表標準的SCPI指令集,Y秀的性價比,良好的售后服務與技術支持,普賽斯儀表是手家國產數字源表...
型號: S系列
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/6/21 9:16:05
對比
源表數字源表SMU源表柔性材料形變測試柔性材料動態(tài)測試
-
數字源表IV掃描光電耦合器電性能
普賽斯教學實驗平臺采用一體化設計,集成了數字源表、LCR電橋、萬用表、示波器等通用儀表;搭配豐富的測試夾具及實驗教材,滿足基礎實驗教學需求;測試設備簡單易用,接...
型號: S100
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/6/20 11:18:35
對比
光耦性能測試光耦電性能分析光耦測試數字源表iv掃描儀
-
半導體性能檢測設備
武漢普賽斯是國內醉早生產源表的廠家,產品系列豐富:產品覆蓋不同的電壓、電流范圍,產品已經過了市場的考驗,市場應用率高;SXXB系列高精度數字源表,相比于傳統(tǒng)S系...
型號: S100B
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/6/18 9:45:48
對比
半導體性能檢測半導體性能測試半導體測試設備半導體檢測設備半導體電性能測試