小型冷熱沖擊測試儀,晶元芯片封裝高低溫交變濕熱試驗(yàn)機(jī),408L恒溫試驗(yàn)箱設(shè)備

 小型冷熱沖擊測試儀,晶元芯片封裝高低溫交變濕熱試驗(yàn)機(jī),408L恒溫試驗(yàn)箱設(shè)備全部功能采用計(jì)算機(jī)控制，系自主開發(fā)的軟件，有良好的操作界面，使用戶小型冷熱沖擊測試儀,晶元芯片封裝高低溫交變濕熱試驗(yàn)機(jī),408L恒溫試驗(yàn)箱設(shè)備體結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

的操作和監(jiān)測都更加簡單和直觀，保持功能可以使你正在運(yùn)行的程序保持在目前的狀態(tài)下，可以臨時(shí)更改此程序段的數(shù)值，可以在屏幕上設(shè)置時(shí)間的參數(shù)，使制冷、加熱、提藍(lán)傳送切換，按設(shè)定值自動(dòng)進(jìn)行。吊藍(lán)傳動(dòng)的電源會(huì)被自動(dòng)切斷。

試驗(yàn)箱門與循環(huán)風(fēng)機(jī)，提藍(lán)傳動(dòng)等互鎖，保護(hù)操作者的安全，一旦打開箱門，循環(huán)風(fēng)機(jī)和提冷箱、熱箱獨(dú)立控制，箱門互相獨(dú)立，擴(kuò)大試驗(yàn)箱的使用范圍（一箱三用）。

產(chǎn)品保溫效果可以得到充分保證。

小型冷熱沖擊測試儀,晶元芯片封裝高低溫交變濕熱試驗(yàn)機(jī),408L恒溫試驗(yàn)箱設(shè)備參數(shù)性能：

型號(hào)(CM)    TS-80         TS-225           TS-500         TS-010 

工作室尺寸 45*45*50       60*60*60         80*80*80     100*100*100  

外型尺寸  156*87*159.5   171*102*184.5 191*122*226.5  211*142*266.5  

樣品區(qū)尺寸 25*25*25 40*40*45 60*60*60 80*80*75  

功率(-40℃)  15(KW) 17(KW)   21(KW) 24(KW)  

小型冷熱沖擊測試儀,晶元芯片封裝高低溫交變濕熱試驗(yàn)機(jī),408L恒溫試驗(yàn)箱設(shè)備性能指標(biāo)

溫度范圍 A:-20℃～200℃ B:-40℃～200℃ C:-60℃～200℃ 

溫度誤差 高溫室及低溫室均±3℃ 

溫度波動(dòng) 高溫室及低溫室均±2℃/±0.5℃（恒溫時(shí)） 

樣品區(qū)承重 30kg 30kg 50kg 60kg 

小型冷熱沖擊測試儀,晶元芯片封裝高低溫交變濕熱試驗(yàn)機(jī),408L恒溫試驗(yàn)箱設(shè)備控制系統(tǒng)

控制器 進(jìn)口LED數(shù)顯（P.I.D + S.S.R.）微電腦集成控制器 

精度范圍 設(shè)定精度：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃ 

制冷系統(tǒng) 德國進(jìn)口谷輪半封閉水冷式壓縮機(jī)組/法國原裝“泰康”全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷 

循環(huán)系統(tǒng) 耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪 

溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間 從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤15S 

溫度恢復(fù)時(shí)間 ≤5min（與溫度恢復(fù)條件有關(guān)，既冷卻水溫、溫差、恒溫時(shí)間、樣品重量有關(guān)） 

溫度沖擊方法 垂直兩箱法/垂直三箱法 (兩箱式小型冷熱沖擊測試儀,晶元芯片封裝高低溫交變濕熱試驗(yàn)機(jī),408L恒溫試驗(yàn)箱設(shè)備/三箱式小型冷熱沖擊測試儀,晶元芯片封裝高低溫交變濕熱試驗(yàn)機(jī),408L恒溫試驗(yàn)箱設(shè)備 

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