凡用于一般封裝零組件所需之破壞性蒸汽壓力試驗(yàn)，例如IC、PCB、二極體、磁性材料、SMD組件等封裝性能測(cè)試規(guī)范。

PCT試驗(yàn)箱價(jià)格 箱體結(jié)構(gòu)及安全裝置：

1．圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)物品，可預(yù)防試驗(yàn)中有滴水結(jié)露現(xiàn)象,可避免蒸汽過熱直接沖擊操作人員。

2．安全程序自動(dòng)停機(jī),自動(dòng)泄壓,自動(dòng)破真空,自動(dòng)給水,每次加水可持續(xù)運(yùn)行48小時(shí)（可根據(jù)客戶要求訂制,也可做成全自動(dòng)補(bǔ)水系統(tǒng)）。

3．采用溫度與壓力安全檢知及門禁自動(dòng)鎖定控制系統(tǒng),圓型測(cè)試槽與安全門環(huán)扣結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),當(dāng)內(nèi)箱壓力越大時(shí),反壓會(huì)迫使安全門與箱體更加緊密之結(jié)合,故內(nèi)箱壓力必須小于正常壓力時(shí),測(cè)試門才能被打開,因此而保證了操作人員的安全。

4．真空系統(tǒng)保證實(shí)驗(yàn)中箱內(nèi)空氣的純凈度（實(shí)驗(yàn)前系統(tǒng)可將箱內(nèi)空氣抽出,并將其過濾為新空氣）

5．具備異常故障訊號(hào)警示功能

PCT-35高壓加速壽命試驗(yàn)箱相關(guān)產(chǎn)品： 

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