小型半導體冷熱沖擊試驗箱還適合于電子、電工、電器、光電、光伏、通訊、機械、工業(yè)零配件、油漆、涂料、安防產品、家具產品、高校實驗室、航空航天實驗室等等。

小型半導體冷熱沖擊試驗箱標準型型號（另：可根據客戶要求定做）：

AP-TS--80 內箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440

AP-TS--150 內箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540

AP-TS--250 內箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640

AP-TS-S-480 內箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150

外箱尺寸：以實際尺寸為標準。

高溫槽預熱溫度范圍：+60℃～200℃；

升溫時間： +60℃～200℃≤30min；

低溫槽預冷溫度范圍： -75～-10℃；

降溫時間： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降溫時間為低溫槽單獨運轉時的性能﹚

試驗方式： 氣動風門切換

溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚

溫度偏差： ±2.0℃

溫度波動度： ±0.5℃

溫度恢復時間： ≤5分鐘

制冷工作原理

高低制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán)，該循環(huán)由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成。其過程如下：制冷劑經壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力，消耗了功使排氣溫度升高，之后制冷劑經冷凝器等溫地和四周介質進行熱交換，將熱量傳給四周介質。后制冷劑經閥絕熱膨脹做功，這時制冷劑溫度降低。最后制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱，使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復始從而達到降溫之目的。